溫度斜率循環(huán)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫（交變）循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
溫度斜率循環(huán)箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。溫度斜率循環(huán)箱卓越的空氣流設(shè)計(jì)，試驗(yàn)中對(duì)精度的梯度控制提高了試驗(yàn)箱的溫濕均勻度，從而使試驗(yàn)結(jié)果更加精確。
溫度斜率循環(huán)箱平滑流暢的外觀設(shè)計(jì)，該系列試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)融入了人體工程學(xué)概念，箱體的前端和側(cè)面非常平滑。溫度斜率循環(huán)箱的觀察窗是完全可視的，且不凝露?？蛇x擇的左開門和右開門得以適應(yīng)不同的試驗(yàn)室布局，大限度的利用了試驗(yàn)室空間。而設(shè)備底部的小輪子增加了使用的方便性，用戶也可以選擇不銹鋼門。
dongg東莞環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測試
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計(jì)有關(guān)的早期失效故障，但同時(shí)，也用于確定產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機(jī)故障的強(qiáng)度。加速壽命試驗(yàn)的目的是找出產(chǎn)品是如何發(fā)生、何時(shí)發(fā)生、為何發(fā)生磨耗失效的。
下面分別對(duì)2種基本類型進(jìn)行簡單闡述。 高低溫試驗(yàn)箱
1、加速壽命試驗(yàn)(ALT)
加速壽命試驗(yàn)只對(duì)元器件、材料和工藝方法進(jìn)行，用于確定元器件、材料及生產(chǎn)工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷，而是識(shí)別及量化在使用壽命末期導(dǎo)致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機(jī)理。有時(shí)產(chǎn)品的壽命很長，為了給出產(chǎn)品的壽命期，加速壽命試驗(yàn)必須進(jìn)行足夠長的時(shí)間。
加速壽命試驗(yàn)是基于如下假設(shè)：即受試品在短時(shí)間、高應(yīng)力作用下表現(xiàn)出的特性與產(chǎn)品在長時(shí)間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。為了縮短試驗(yàn)時(shí)間，采用加速應(yīng)力，即所謂高加速壽命試驗(yàn)(HALT)。
加速壽命試驗(yàn)提供了產(chǎn)品預(yù)期磨損機(jī)理的有價(jià)值數(shù)據(jù)，這在當(dāng)今的市場上是很關(guān)鍵的，因?yàn)樵絹碓蕉嗟南M(fèi)者對(duì)其購買的產(chǎn)品提出了使用壽命要求。估計(jì)使用壽命僅僅是加速壽命試驗(yàn)的用處之一。它能使設(shè)計(jì)者和生產(chǎn)者對(duì)產(chǎn)品有更全面的了解，識(shí)別出關(guān)鍵的元器件、材料和工藝，并根據(jù)需要進(jìn)行改進(jìn)及控制。另外試驗(yàn)得出的數(shù)據(jù)使生產(chǎn)廠商和消費(fèi)者對(duì)產(chǎn)品有充分的信心。
加速壽命試驗(yàn)的對(duì)象是抽樣產(chǎn)品。
2、可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)有許多名稱和形式，如步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、應(yīng)力壽命試驗(yàn)(STRIEF)、高加速壽命試驗(yàn)(HALT)等。RET的目的是通過系統(tǒng)地施加逐漸增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力，來激發(fā)故障和暴露設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié)，從而評(píng)價(jià)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的可靠性。因此，RET應(yīng)該在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和發(fā)展周期中zui初的階段實(shí)施，以便于修改設(shè)計(jì)。
國外可靠性的有關(guān)研究人員在80年代初就注意到由于設(shè)計(jì)潛在缺陷的殘留量較大，給可靠性的提高提供了可觀的空間，另外價(jià)格和研制周期問題也是當(dāng)今市場競爭的焦點(diǎn)。研究證明，RET不失為解決這個(gè)問題的zui好方法之一。
它獲得的可靠性比傳統(tǒng)的方法高得多，更為重要的是，它在短時(shí)間內(nèi)就可獲得早期可靠性，無須像傳統(tǒng)方法那樣需要長時(shí)間的可靠性增長(TAAF)，從而降低了成本。
